Fundamentals of Atomic Force Microscopy

พื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม

4(4-0-12)

วิชาบังคับก่อน : ไม่มี

หลักการพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม กลศาสตร์การสัมผัส ลักษณะของพื้นผิว ปฏิสัมพันธ์ของพื้นผิว พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ ปฏิสัมพันธ์ระหว่างโมเลกุลระดับนาโนสเกล กล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอม การถ่ายภาพพื้นผิว กลศาสตร์ไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้ง

เค้าโครงรายวิชา

  1. หลักการพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม และกลศาสตร์การสัมผัส (8 ชม.)
  2. ลักษณะของพื้นผิวและปฏิสัมพันธ์ของพื้นผิว พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ (8 ชม.)
  3. พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ (8 ชม.)
  4. กล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอมและการวัดคุณสมบัติของพื้นผิว (12 ชม.)
  5. กลศาสตร์ไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้งบนวัสดุต่าง ๆ (12 ชม.)

ผลสัมฤทธิ์การเรียนรู้

  1. อธิบายหลักการของกล้องจุลทรรศน์วัดแรงอะตอมและการใช้งาน
  2. กำหนดหาลักษณะพื้นผิวและกลศาสตร์การสัมผัส กล้องจุลทรรศน์วัดแรงอะตอม, กลศาสตร์แรงตึงผิว และไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้ง
  3. อภิปรายบทความวิชาการด้านการวิจัยที่เกี่ยวข้องการใช้งานกล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอม

 

Fundamentals of Atomic Force Microscopy

Prerequisite : None

Fundamentals of atomic force microscopy, contact mechanics, surface properties, surface interactions, surface energy and adhesion, nanoscale molecular interactions, atomic force microscopy, surface imaging, hydro-electrowetting mechanics.

Course Outline

  1. Fundamentals of Atomic Force Microscopy and Contact Mechanics. (4 hr.)
  2. Surface Properties and Surface Interactions, Surface Energy and Adhesion. (8 hr.)
  3. Surface Energy and Adhesion. (8 hr.)
  4. Atomic Force Microscopy and Surface Properties Measurement. (12 hr.)
  5. Hydro-electrowetting Mechanics on Various Materials. (12 hr.)

Learning Outcomes

  1. Explain the principle of atomic force microscope and its application.
  2. Determine the surface properties and contact mechanics of atomic force microscope, surface tension mechanics and hydro electrowetting.
  3. Discuss research articles related to the application of atomic force microscope.