พื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม
4(4-0-12)
วิชาบังคับก่อน : ไม่มี
หลักการพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม กลศาสตร์การสัมผัส ลักษณะของพื้นผิว ปฏิสัมพันธ์ของพื้นผิว พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ ปฏิสัมพันธ์ระหว่างโมเลกุลระดับนาโนสเกล กล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอม การถ่ายภาพพื้นผิว กลศาสตร์ไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้ง
เค้าโครงรายวิชา
- หลักการพื้นฐานของกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม และกลศาสตร์การสัมผัส (8 ชม.)
- ลักษณะของพื้นผิวและปฏิสัมพันธ์ของพื้นผิว พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ (8 ชม.)
- พลังงานพื้นผิวและการยึดเกาะ (8 ชม.)
- กล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอมและการวัดคุณสมบัติของพื้นผิว (12 ชม.)
- กลศาสตร์ไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้งบนวัสดุต่าง ๆ (12 ชม.)
ผลสัมฤทธิ์การเรียนรู้
- อธิบายหลักการของกล้องจุลทรรศน์วัดแรงอะตอมและการใช้งาน
- กำหนดหาลักษณะพื้นผิวและกลศาสตร์การสัมผัส กล้องจุลทรรศน์วัดแรงอะตอม, กลศาสตร์แรงตึงผิว และไฮโดรอิเล็กโทรเวตติ้ง
- อภิปรายบทความวิชาการด้านการวิจัยที่เกี่ยวข้องการใช้งานกล้องจุลทรรศน์วัดแรงระดับอะตอม
Fundamentals of Atomic Force Microscopy
Prerequisite : None
Fundamentals of atomic force microscopy, contact mechanics, surface properties, surface interactions, surface energy and adhesion, nanoscale molecular interactions, atomic force microscopy, surface imaging, hydro-electrowetting mechanics.
Course Outline
- Fundamentals of Atomic Force Microscopy and Contact Mechanics. (4 hr.)
- Surface Properties and Surface Interactions, Surface Energy and Adhesion. (8 hr.)
- Surface Energy and Adhesion. (8 hr.)
- Atomic Force Microscopy and Surface Properties Measurement. (12 hr.)
- Hydro-electrowetting Mechanics on Various Materials. (12 hr.)
Learning Outcomes
- Explain the principle of atomic force microscope and its application.
- Determine the surface properties and contact mechanics of atomic force microscope, surface tension mechanics and hydro electrowetting.
- Discuss research articles related to the application of atomic force microscope.